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XRD简介
2017-06-08 14:01   审核人:

XRD简介

布鲁克全新D8 ADVANCE X射线衍射仪,采用创造性的达芬奇设计,通过TWIN-TWIN光路设计,成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换,而无需对光。通过革命性的TWIST TUBE技术,使用户可以在1分钟内完成从线光源应用(常规粉末的定性定量分析、薄膜的GIDXRR)到点光源应用(织构、应力、微区)的切换,让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史!
  D8 Advance的特点:

1、采用新一代的陶瓷X光管技术,焦斑位置稳定,衰减小,寿命长;而且该光管为标准尺寸,对用户的限制小;因为采用的是封闭靶技术,后期维护非常方便;

2、全自动可变狭缝,用户可以自由选择固定狭缝大小或固定测量面积模式;

3、高精度立式测角仪,样品水平放置,最小步长及角度重复性皆为0.0001;测角仪精度保障:国际NIST 刚玉标样用户现场检测,保证全谱范围内所有峰的角度偏差不超过±0.01

4、林克斯一维阵列探测器:相对与常规探测器强度提高150倍以上,灵敏度提高一个数量级;

5、该探测器共由192个子探测器阵列组成,在相同条件下,与常规的闪烁计数器(或正比计数器)相比,强度增益(或速度增益)高达150倍以上,同时具有优秀的分辨率及信噪比;

6、杰出的角度分辨率:基本上等同于采用0.1mm接受狭缝的点探测器的分辨率。在大幅提高强度的同时,保证了数据质量;

7、良好的低角度测量:LynxEye探测器在充分吸收布鲁克20多年的阵列探测器应用的基础上,基本克服了常规阵列探测器低角度性能欠佳的弱点;

8、优异的能量分辨率:20%,无需单色器,即可有效去除含铁样品的荧光;

9、用户可随意选择子探测器开放个数,当作点探测器使用,免去了点、线探测器互换的麻烦;

10分析软件:好用、功能强,所有参数调整采用动态调整、所见即所得的方式,简 单、快捷;

XRF简介

XRF-1800由日本岛津公司生产,是一款专用于化学成分分析的X射线荧光分析装置。 在实现降低运作成本和更易维护的同时,以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在15分钟内完成。可进行固体、粉末、液体等多种样品的定性分析和无需工作曲线的FP法定量分析。在成熟的硬件上又增加了新开发的利用高次线进行的定性定量法、250μm给图功能等,进一步提高了可靠性,充实了应用。

技术参数:

· 1. 测定原理 X射线荧光分析法

· 2. 测定方法 各元素荧光效应

· 3. 测定对象 固体、涂层、粉状

· 4. 测定范围 11Na -92U

· 5. 样品室尺寸 Φ40×20mm

· 6. 制冷方式 内外循环水

· 7. 定性分析、定量分析

· 8. X射线管 4kW薄窗、Rh靶

· 9. 分光器 10晶体可交换,5种狭缝可交换,高次线轮廓功能,超高速分析功能(300°/min)

· 10. 小束斑功能 分析直径500μm

· 11. 成象功能 表示直径250μm

主要特点:

· 主菜单显示,操作简单方便

· 从主成分判定到条件选择全部实现自动处理

· 拥有大容量样品室,可以直接测定大型样品

· 日常维护量较小

· 配备保护功能,限制条件或数据的变更

· 能够根据管理方法轻松自定义

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